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力学环境试验设备综合环境试验设备气候环境试验设备分析测试系统及传感器制造

TSD系列温度冲击试验箱
一、主要技术指标

工作室尺寸：1000D×1000W×1000H mm，内容积约1000L
外形尺寸：约3400D×2150W×2170H mm，不含控制器、测试孔等突出部分。
冲击范围：-55℃～+150℃，带载50kg铝锭
暴露时间：30min
恢复时间：≤5min
转换时间：≤15s
温度波动度：≤±0.5℃、空载
温度均匀度：≤2℃、空载
温度偏差：≤±2℃、空载
高温室预热：温度范围：+60℃～+200℃，温度上升时间：常温→+200℃≤40min
低温室预冷：温度范围：0℃～-70℃，温度下降时间：常温→-65℃≤50min
功率：约125kW
噪音：≤75dB（A），距离箱体正前方1米远处距地面1.2米高时测量。
重量：2400Kg

二、产品执行标准

GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验
GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验
GB/T 2423.22-2002 试验N：温度变化试验
GJB150.3A-2009 高温试验
GJB150.4A-2009 低温试验
GJB150.5A-2009温度冲击试验
GJB360A-1996 电子及电器元件试验方法方法107 条件A、B、F
GB/T10589-2008 低温试验箱技术条件
GB/T11158-2008 高温试验箱技术条件
GB T5170.1-2008 电工电子产业环境试验设备检验方法总则
GB/T5170.2-2008电工电子产品环境试验设备检验方法温度试验设备

卧式

立式

TSD系列温度冲击试验箱

TSD 系列温度冲击试验箱一、主要技术指标工作室尺寸：1000D1000W1000H mm，内容积约1000L 外形尺寸：约3400D2150W2170H mm，不含控制器、测试孔等突出部分。冲击范围：-55℃～+150℃，带载...

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